Produktneuheit 28. April 2025

TopMap Micro.View® ist das kompakte Profilometer der TopMap Weißlichtinterferometer und besticht durch schnelle, wiederholgenaue und hochauflösende Oberflächencharakterisierung. Ob Mikrostrukturen, Textur, Beschaffenheit oder flächenhafte Rauheitsparameter (Sa, Sz, ...) - scannen Sie Ihre Oberflächen effizient mit sub-nm-Auflösung!
Dank integrierter CST Continuous Scanning Technology bietet der 100 mm lange Verfahrweg in Z-Achse auch komplette 100 mm Messbereich bei einer vertikalen Auflösung im Bereich von Nanometern. Dieses optische Profilometer zeichnet sich durch Kompaktheit dank integrierter Elektronik aus und besticht durch Bedienerfreundlichkeit - zum Beispiel per Focus Finder für schnelles und effizientes Messen in Produktionsumgebung und Prüflabor.
 Flächenhafte 3D-Topografieanalyse von Rauheit und Texturen und Mikrostrukturen
 Kompaktsystem für Oberflächendetails
 100 mm vertikaler Messbereich mit CST Continuous Scanning Technologie
 Exzellente laterale Auflösung
 Messen mit sub-Nanometer Auflösung
 Operator Interface für vordefinierte Messrezepte als schnelle 1-Klick-Lösungen
 NEU: Erweiterte Objektivoptionen 0,6X ... 111X jetzt verfügbar

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